Analýza kryštálov pomocou röntgenovej direktometrie (XRD) - PDF na stiahnutie zadarmo

Analýza kryštálov pomocou röntgenovej direktometrie (XRD) Susanne Schreier 14. apríla 2016 1 Motivácia Aby bolo možné nedeštruktívne skúmať kryštály, používa sa röntgenová directometria (X-Ray Diraction XRD). Okrem iného poskytuje informácie o fáze šoku, štruktúre kryštálu alebo jeho dislokačnej hustote. Ďalej je možné skúmať napätie alebo textúru materiálu. Röntgenová directometria je obzvlášť dôležitá pri skúmaní tenkých vrstiev a určovaní hrúbok vrstiev v tenkovrstvových systémoch. Obsah 1 Motivácia 1 2 Základné informácie 2 2.1 Millerove indexy. 2 2.2 Interakcie žiarenia s hmotou. 2 2.3 Braggov stav. 3 3 Merací prístroj 3 3.1 Röntgenová trubica. 3 3.2 Cesta lúča. 4 3.3 Detektor. 4 3,4 Goniometer. 5 4 Fázová analýza 6 5 Intenzita difrakčných vrcholov 7 6 Dislokácie 7 6.1 Kroková dislokácia. 8 6.2 Vykĺbenie skrutky. 8 6.3 Krivka kývania. 8 7 Vyšetrovanie na tenkých vrstvách 9 7.1 GIXRD. 9 7,2 XRR. 10 8 Zoznam zdrojov 10 1